品牌
Sensofar
型號
S Wide
更新日
2023/04/25 - 15:18
S wide是SENSOFAR推出的劃時代3D光學量測系統。
適用於快速測量大範圍樣品，測量面積最高可達 300x300mm。
S wide以新光學技術，利用周期性條紋投影，就算是表面有40mm高度落差以內，都能夠快速建構大範圍3D輪廓。
解決方案_大面積3D光學測量系統
- 先進製造業
- 考古學與古生物學
- 消費類電子產品
- 醫療設備
- 模塑
- 光學
- 鐘錶業
具有亞微米高度的可重複性
不需Z軸掃描及可測量最高40 nm的單次測量高度
具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量
與3D CAD模型的形狀偏差
提供幾何公差和公差測量
技術指南